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磁粉探傷用試片A1、A2、D、C、M1型主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測(cè)設(shè)備、磁粉和磁懸液綜合性能。了解被檢工件表面有效磁場強(qiáng)度和方向、有效檢測(cè)區(qū)以及磁化方法是否正確。
型靈敏度試片Z先由日本無損檢測(cè)學(xué)會(huì)提出，以后為多個(gè)國家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對(duì)幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查探傷設(shè)備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對(duì)顯示缺陷的磁場強(qiáng)度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者*的調(diào)試工具。
M1型磁粉檢測(cè)試片試片用于連續(xù)法磁粉探傷時(shí)，驗(yàn)證工件表面磁場強(qiáng)度的大小與方向，驗(yàn)證磁粉探傷的綜合性能。
A型靈敏度試片Z先由日本無損檢測(cè)學(xué)會(huì)提出，以后為多個(gè)國家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對(duì)幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查探傷設(shè)備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對(duì)顯示缺陷的磁場強(qiáng)度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者*的調(diào)試工具。
D型磁粉靈敏度試片系本公司按JB/T4730.4-2005中D型試片的要求制作 D型磁粉靈敏度試片用于連續(xù)法磁粉探傷時(shí)，驗(yàn)證工作表面磁場強(qiáng)度的方向與大小，驗(yàn)證磁粉探傷的綜合性能。
N1型提升力試塊 規(guī)格為:45牛頓,約5Kg N2型提升力試塊 規(guī)格為:118牛頓,約12Kg N3型提升力試塊 規(guī)格為:177牛頓,約18Kg
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